표준硏 디스플레이 기판 측정기술 기업 이전

한국표준과학연구원(KRISS)은 8일 표준연 기술지원동에서 ㈜쎄미시스코와 디스플레이 기판 측정 기술 이전 계약을 체결했다.

표준연 길이센터 김종안 박사팀이 개발한 이번 기술은 디스플레이 기판의 두께를 나노미터(㎚, 10억분의 1ｍ) 수준까지 측정할 수 있는 기술이다.

초당 최대 10만번까지 측정할 수 있고, 기판에 진동이 발생하더라도 정확한 측정 결과를 내놓을 수 있다.

특히 레이저 빛을 이용한 광학 측정방식으로 대상에 접촉하지 않고도 측정할 수있어 실시간 측정이 가능하다.

기존에는 공정 라인에서 발생하는 진동 때문에 기판을 샘플링해 별도로 측정해야 했다.

김종안 박사는 "산업체에서 효과적으로 활용할 수 있도록 기본기술료 부담을 줄이고 제품 매출액의 2.5%를 경상기술료로 요청했다"면서 "이번 기술을 통해 제품의전수조사가 가능해져 품질향상 및 불량률 감소를 이룰 수 있을 것으로 기대된다"고말했다.

jyoung@yna.co.kr(끝)<저 작 권 자(c)연 합 뉴 스. 무 단 전 재-재 배 포 금 지.>