서울중앙지법은 원정숙 영장전담 부장판사는 27일 업무방해 혐의를 받는 이모씨의 구속 전 피의자 심문(영장실질심사)을 진행한 뒤 "구속의 사유와 필요성이 인정된다"면서 구속영장을 발부했다.
이 씨는 2017년부터 3년 동안 미국에서 A고등학교로 배송된 SAT 시험지가 든 상자를 뜯어 사진을 찍은 뒤 입시 브로커에게 유출한 혐의를 받고 있다. 입시 브로커에게 유출된 시험지는 학부모 수십명에게 전달된 것으로 알려졌다.
서울지방경찰청 지능범죄수사대는 이달 초 A고등학교를 압수수색하고 CCTV 파일 등을 확보한 후 지난 23일 이 씨에 대한 구속영장을 신청했다. 원 판사는 "이 씨의 행위는 공정한 시험에 대한 수험생의 신뢰와 국제사회에서의 한국에 대한 신뢰를 크게 훼손하는 결과를 가져왔다"면서 "이 씨가 해외로 도망할 염려가 있고, 해외 대학 입시 관련 업무를 하고 있어 재범 위험성도 있다"고 영장 발부 이유를 설명했다.
앞서 경찰은 지난달 SAT 문제를 불법으로 빼돌린 입시 브로커 B씨를 구속하고 이를 활용한 학원강사와 학부모 등 20여명을 입건하기도 했다. 경찰은 학무보들이 수천만원을 내고 시험지는 미리 받은 혐의를 포착해 조사를 이어가고 있다.
이보배 한경닷컴 객원기자 newsinfo@hankyung.com
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