"정신분열증, 뇌 분화 중 상처가 원인일수도"< KAIST>

정신분열증이 발병하는 원인이 유전이 아닌 뇌가 분화되는 과정에서 생긴 상처 때문일 수 있다는 연구결과가 나왔다.

KAIST(한국과학기술원) 유전자동의보감사업단은 이도헌 교수·김준호 박사 연구팀과 미국 스탠리 의학연구소 김상현 박사 연구팀이 공동으로 후천적으로 발생하는뇌 결손이 정신분열증 발병의 원인이 될 가능성을 확인했다고 23일 밝혔다.

연구팀이 정상인 2명과 정신분열증 환자 3명의 사후 뇌 조직을 단시간에 염색체이상을 점검하는 '차세대 염기서열분석기법'(NGS)을 이용해 분석한 결과, 뇌에서 '체성 결손'이 나타난 것을 확인했다.

체성 결손은 유전이 아닌 발생 과정에서 DNA에 추가로 나타난 상처를 뜻하는 말로, 유전 결손과 반대되는 용어이다.

이번 연구에서 유전 결손은 정상인과 정신분열증 환자 간에 차이가 없는 것으로나타났다.

체성 결손의 개수도 같았으나, 정신분열증 환자에서는 뇌 조직의 분화 기능을담당하는 유전자들을 중심으로 결손이 발생한 양상을 보였다.

세포 성장이나 DNA 수리, 대사작용 등을 담당하는 다른 뇌세포 유전자에서는 결손이 확인되지 않았다.

기존에는 정신분열증 환자들의 유전적 결손을 중심으로 치료 표적 유전자를 찾기 위한 연구가 많았지만, 확실한 표적 유전자를 밝혀내지 못했다.

이번 연구는 정신분열증 치료를 위한 신약 개발에 기여할 것으로 기대된다.

연구 결과는 세계적 학술지 네이처의 자매지인 '사이언티픽 리포트'(ScientificReports)에 22일자로 실렸다.

jyoung@yna.co.kr(끝)<저 작 권 자(c)연 합 뉴 스. 무 단 전 재-재 배 포 금 지.>