무역위, 반도체 테스트소켓 특허권 침해 조사에 '비침해' 판정

무역위, 반도체 테스트소켓 특허권 침해 조사에 '비침해' 판정

(서울=연합뉴스) 고은지 기자 = 산업통상자원부 무역위원회는 국내업체 ㈜아이에스시가 지난해 국내 경쟁사 A사를 대상으로 신청한 반도체 테스트 소켓 특허권 침해 여부에 대해 '비침해' 판정을 내렸다.
무역위는 23일 서울 강남구 무역센터에서 제380차 회의를 열고 이 같은 결론을 내렸다고 밝혔다.
해당 조사는 아이에스시가 지난해 11월 9일 신청한 뒤 같은 달 27일 개시됐으며 약 9개월간 진행됐다.
조사의 주요 쟁점은 A사가 수출하는 반도체 테스트 소켓이 아이에스시의 특허 권리 범위에 포함되는지였다.
반도체 테스트 소켓은 제조된 반도체의 전기적 성능을 검사하기 위해 사용되는 소모품이다. 반도체 칩과 고가의 검사 장비를 전기적으로 연결하는 도전부, 도전부를 형성하는 도전성 입자로 구성돼 있다.
아이에스시와 A사는 각 사 제품의 도전성 입자 형상과 도전성 입자들이 도전부에 배치된 형태가 아이에스시 특허의 청구 범위에 기재된 구성에 해당하는지를 두고 대립했다.
무역위는 양 당사자에게 모두 26차례에 걸쳐 답변서와 의견서를 받았고, 2회의 현지조사, 조사 대상 물품에 대한 전문기관의 분석·감정, 기술설명회 등을 진행했다.
그 결과 A사의 반도체 테스트 소켓은 아이에스시가 보유한 특허와 비교해 도전성 입자가 도전부에 배치된 형태와 다르다고 보고, A사의 행위가 불공정무역행위에 해당하지 않는다는 결론을 내렸다.
이번 판정에 따라 A사는 자사 반도체 소켓의 제조·수출을 계속할 수 있게 됐다.


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